探針卡是什麼?晶圓上的每一顆晶片怎麼通電測
探針卡(probe card)是晶圓測試用的工具:一片板子上排著很多很細的針,照晶片接點的位置排好,一次扎在晶圓上的接點,把測試機的訊號送進晶片、再把結果讀回來。晶圓切開之前,每一顆晶片都要這樣通電考一次,這叫針測,也叫晶圓測試或 CP。
針測整體怎麼做、跟包好之後的成品測試差在哪,「晶片怎麼測試?」講過了;這篇只講針那一層:怎麼扎、為什麼會髒、為什麼一種晶片一張卡。
探針卡放在哪裡?
晶片表面一小片一小片的金屬叫接點,電和訊號從這裡進出。接點一個挨一個,間距常只有幾十微米,差不多一根頭髮粗;測試機那一端的接頭卻大得多,探針卡就夾在中間,像一個轉接頭:
- 測試機:電腦那一端,照著測試程式送訊號、比對結果。它接著一個大盒子叫測試頭,就壓在探針卡上面。
- 探針卡:一塊電路板,外圈接上測試頭,線路往中間越走越密,最後接到針上。
- 晶圓:放在探針台(也叫針測機)的吸盤上。吸盤會前後左右移動,也會往上頂。
訊號就這樣走:測試機 → 測試頭 → 探針卡 → 針尖 → 接點,結果照原路回來。
一步一步:探針卡怎麼量一片晶圓?
第 1 步:照晶片的接點,做一張專用的卡
- 做什麼:照這種晶片每一個接點的位置排針,讓每一根針尖剛好落在一個接點上。
- 為什麼:針固定在卡上,不會自己移動;每一種晶片的接點擺法都不一樣。
- 不這樣會怎樣:針落在接點外面,根本接不上,好的晶片也量成壞的。
第 2 步:晶圓放進探針台,對準
- 做什麼:手臂把晶圓放到吸盤上,相機找出晶片和針尖各在哪裡;對好了,再把第一顆移到針的正下方。
- 為什麼:接點只有幾十微米大,晶圓歪一點,幾百根針就一起偏掉。
- 不這樣會怎樣:針扎在接點邊上,接觸時好時壞,同一顆量兩次,結果不一樣。
第 3 步:針壓下去,再滑一點點
- 做什麼:吸盤把晶圓往上頂,碰到針尖後再多頂一小段。針有彈性,會彎一下,針尖就在接點上滑一點,留下小刮痕,叫針痕。
- 為什麼:很多晶片的接點是鋁,鋁一碰到空氣,表面就長出一層很薄、不太導電的氧化層。針尖要刮破它、碰到底下的金屬,電才通得過去,就像刮刮樂要先刮掉那層銀漆。
- 不這樣會怎樣:壓太輕,刮不破,量到的電阻偏高、數字跳來跳去。壓太重,針痕太深,會傷到接點和底下的層,之後在這裡打線就可能黏不牢。
第 4 步:測完一顆換下一顆,或一次好幾顆
- 做什麼:測試機一項一項考完,吸盤放下來,移到下一個位置再頂上去。很多卡一次扎好幾顆,每個位置各用自己那一組針。
- 為什麼:一片晶圓常有幾百、幾千顆晶片,一顆一顆來太慢。
- 不這樣會怎樣:只扎一顆,一片要多花好幾倍的時間;同時測時,其中一組針一髒,壞的就一直出現在同一個位置。
第 5 步:結果畫成晶圓圖
- 做什麼:每一顆照結果分進不同的 bin,再照位置畫成晶圓圖。
- 為什麼:晶圓切開之後,後面的機器照著圖只拿好的去包;壞的排成什麼形狀,也是找問題的線索。
- 不這樣會怎樣:壞的也被包起來,封裝的錢就白花了。圖怎麼讀,見「WAT 是什麼?」。
探針卡的針有哪幾種?
| 種類 | 長什麼樣子 | 為什麼用它 |
|---|---|---|
| 懸臂式 | 針斜斜地從卡上伸出去,像小釣竿,尖端往下彎 | 做得快、比較便宜,現在還很常用;適合接點排在晶片四邊的晶片 |
| 垂直式 | 針直直地立著往下扎 | 針可以排成一整片,扎得到晶片中間的接點 |
| 微機電式(MEMS) | 用做晶片那類方法(例如微影、電鍍)把針「長」出來 | 更細、更密、位置更準,給接點最多最密的晶片用;越密、越精細的卡,通常也越貴 |
針為什麼要常常清?還要量什麼?
每扎一次,針尖都會刮下一點氧化物和金屬屑,有些黏在針尖上;扎多了,接觸的電阻就越來越大。所以每扎一段次數,就在探針台旁邊的清針片上扎幾下,把屑磨掉。清針也會磨掉一點針尖,多久清一次是一種取捨。
除了清,還要定期量:
- 平整度:幾百、幾千根針尖要在同一個高度。短的要壓很多才碰得到,長的就被壓得太重。
- 對準:每根針尖前後左右的位置,會慢慢跑掉。
- 接觸電阻:太大,就該清了。
針磨得太多,就要修針或換卡。
針髒了,為什麼看起來像製程出問題?
針尖一髒,量到的電阻就偏高,跟晶圓真的做壞了很像:電阻偏高,可能是製程沒做好,也可能只是針沒接好。好的晶片因此被判成壞的,廠裡有人叫它「誤殺」。
所以數字一不對,常先懷疑量測、再懷疑製程:
- 壞的總在同一個位置:同時測的幾格裡,每一批都是同一格偏低。晶圓不太可能每批都剛好壞在那一格。
- 清針、重扎一次就好了:數字回來,就是卡的問題;還是壞的,才往製程找。
重扎也不能一直扎:壓在及格線邊邊的晶片,扎很多次總有一次剛好過,等於把標準放寬了,接點上的針痕也越來越多。針測只回答「現在好不好」;會不會用沒多久就壞,見「預燒是什麼?」。
為什麼一種晶片一張卡,而且那麼貴?
因為接點的位置跟著晶片走。換一種產品,或晶片改版、縮小,接點一動,通常就要一張新的卡。
做一張卡也不簡單:針多的有好幾千根以上,每一根都要準準落在幾十微米大的接點上;很多卡還要一根一根用手裝針。一種晶片要的張數又不多,沒辦法大量生產把成本攤掉,這叫「少量多樣」。所以一張卡會重複用很久。
在 fab24hr 裡
按「進廠」、選「打工人的一天」,在「今天你是」卡片上點「封測廠」(見「OSAT 是什麼?」),左右滑到測試工程師。深夜班(班別照裝置上的時間),探針卡一次扎四顆,位置 3 每一批都偏低:要先處理卡(清針或換備用卡),還是先把壞的重測?重測又要扎幾次?
主線「晶片的一生」第 3 章「壞的形狀」,研發線第 9 片的接觸電阻偏高,你要決定重扎一次,還是寫成製程的問題;第 10 章「待機電流」,資深測試工程師鄭姐看到壞的,第一件事也是問「是不是我們量錯?」
圖鑑的「機台一覽」裡,探針卡和晶圓針測機都能「拆開來看」;探針卡按「看它怎麼動」,從拿卡、扎下去到清針,一步一步演給你看。
遊戲裡的封測廠、晶片、人物和數字都是虛構的,一次扎四顆也是遊戲的設定;探針卡是什麼、怎麼用,照公開的一般資料寫。其他行話可以到「半導體晶圓廠的行話,白話解釋」查。
在遊戲裡你會在哪裡遇到它在「打工人的一天」當封測廠的測試工程師,深夜班的探針卡一次扎四顆,其中一個位置每一批都偏低;主線「晶片的一生」第 3 章和第 10 章,數字一不對,都要先想想是不是探針卡。圖鑑的「機台一覽」裡,探針卡也能拆開來看。
在 fab24hr 裡,深夜的探針台不停:同一個位置一直偏低,是卡髒了,還是晶片真的壞了,由你判斷。
當測試工程師玩,查出是探針卡還是晶片給老師:這一篇可以搭配「在課堂上玩 fab24hr」用在課堂上。
引用這篇〈探針卡是什麼?晶圓上的每一顆晶片怎麼通電測〉,fab24hr,更新。https://fab24hr.com/blog/probe-card/
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